晶片/外延片/衬底片测量设备首页 > 产品中心 / Products

外延片PL谱扫描成像仪

外延片PL谱扫描成像仪系我公司在国家高技术研究发展计划(“863”计划)的支持下,与清华大学合作研制的专利产品。本成像仪可在线快速检测外延片的PL数据,生成高分...

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PSS衬底片反射率测量及分类机

PSS衬底片反射率测量及分类机系我公司与清华大学合作研制的专利产品。该设备可在线快速检测PSS衬底片刻蚀前和刻蚀后的反射率(PR)数据...

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高速智能自动晶片激光打标机

智能图像识别技术,0.1秒定位晶片切边;单片打标时间10秒/片,产能提高50%;像素级精度,重复精度更高;月产能21.6万片(每天20小时,每月30天计)...

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