方块电阻自动测试机

半导体材料的薄膜电阻，是判断材料掺杂浓度的一个主要参数。本设备采用非接触方法，采用涡流技术，测量晶片上指定位置的薄膜电阻，并形成Mapping图。...

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外延片PL谱扫描成像仪

外延片PL谱扫描成像仪可在线快速检测外延片的PL数据，生成高分...

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晶片厚度翘曲度自动测量解决方案

让设备配置更符合您的需求，不为用不上的功能、性能买单，只为实际所需付费，您需要定制化的服务和产品，请交给我们来做！ 我们可根据您的要求为您提供定制化设计的晶片...

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晶片膜厚自动测量及分类机

可用于半导体制造（非晶多晶硅、多孔硅、光刻胶、氮化物、氧化物等）、液晶显示（聚酰亚胺、导电透明膜）、光学涂层（硬涂层、抗反射涂层）、玻璃和塑料厚度、硬涂层厚度、...

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晶片自动分类及OCR识读机

设备可自动从客户MES系统获得原始数据，根据相关指标进行重新分类或挑片，分类的同时对晶片上的SEMI字体刻号进行识别、验证，设备分类及OCR识别后，自动将MES...

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PSS衬底片反射率测量及分类机

PSS衬底片反射率测量及分类机可在线快速检测PSS衬底片刻蚀前和刻蚀后的反射率（PR）数据...

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